IMPROVED EVENT-SCANNING MECHANISMS FOR DISCRETE EVENT SIMULATION

被引：12

作者：

WYMAN, FP ^{[1
]}

机构：

[1] BECHTEL INC,DYNAM SIMULATION GRP,POB 3965,SAN FRANCISCO,CA 94119

来源：

关键词：

D O I：

10.1145/360825.360873

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：350 / 353

页数：4

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