SECONDARY-ELECTRON EMISSION AS A TECHNIQUE FOR IN-SITU CRYSTAL ALIGNMENT IN LOW ION-ENERGY REFLECTION EXPERIMENTS

被引：6

作者：

FEIJEN, HHW ^{[1
]}

VERHEY, LK ^{[1
]}

BOERS, AL ^{[1
]}

SUURMEIJER, EP ^{[1
]}

机构：

[1] STATE UNIV GRONINGEN, TECH PHYS LAB, GRONINGEN, NETHERLANDS

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1973年 / 6卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/6/12/005

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1174 / 1175

页数：2