FAILURE MODES IN SILICON AVALANCHE TRANSIT-TIME MICROWAVE DEVICES

被引：2

作者：

SCHENCK, JF

MIDFORD, TA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1967.16019

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：619 / +

页数：1

共 6 条

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