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0.1-MU-M GATE-LENGTH SUPERCONDUCTING FET
被引:48
作者
:
NISHINO, T
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NISHINO, T
HATANO, M
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HATANO, M
HASEGAWA, H
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HASEGAWA, H
MURAI, F
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MURAI, F
KURE, T
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KURE, T
HIRAIWA, A
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HIRAIWA, A
YAGI, K
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YAGI, K
KAWABE, U
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KAWABE, U
机构
:
来源
:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
|
1989年
/ 10卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1109/55.32429
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
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相关论文
共 13 条
[11]
SUPERCONDUCTING PROXIMITY EFFECT IN THE NATIVE INVERSION LAYER ON INAS
[J].
TAKAYANAGI, H
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TAKAYANAGI, H
;
KAWAKAMI, T
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KAWAKAMI, T
.
PHYSICAL REVIEW LETTERS,
1985,
54
(22)
:2449
-2452
[12]
SUPERCONDUCTOR-NORMAL-SUPERCONDUCTOR MICROBRIDGES - FABRICATION, ELECTRICAL BEHAVIOR, AND MODELING
[J].
VANDOVER, RB
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
VANDOVER, RB
;
DELOZANNE, A
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STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
DELOZANNE, A
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BEASLEY, MR
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
BEASLEY, MR
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1981,
52
(12)
:7327
-7343
[13]
VANDUZER T, 1981, PRINCIPLES SUPERCOND, P289
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共 13 条
[11]
SUPERCONDUCTING PROXIMITY EFFECT IN THE NATIVE INVERSION LAYER ON INAS
[J].
TAKAYANAGI, H
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TAKAYANAGI, H
;
KAWAKAMI, T
论文数:
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KAWAKAMI, T
.
PHYSICAL REVIEW LETTERS,
1985,
54
(22)
:2449
-2452
[12]
SUPERCONDUCTOR-NORMAL-SUPERCONDUCTOR MICROBRIDGES - FABRICATION, ELECTRICAL BEHAVIOR, AND MODELING
[J].
VANDOVER, RB
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STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
VANDOVER, RB
;
DELOZANNE, A
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STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
DELOZANNE, A
;
BEASLEY, MR
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT APPL PHYS,STANFORD,CA 94305
BEASLEY, MR
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1981,
52
(12)
:7327
-7343
[13]
VANDUZER T, 1981, PRINCIPLES SUPERCOND, P289
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