MATRIX CALCULATION APPLIED TO THIN-LAYERS - DETERMINATION OF PARTIAL DERIVATIONS OF THE COEFFICIENT OF REFLECTION

被引：7

作者：

MOUCHART, J

机构：

来源：

OPTICA ACTA | 1980年 / 27卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1080/713820234

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：401 / 408

页数：8

共 5 条

[1]

Abeles F., 1950, ANN PHYS-PARIS, V12, P596, DOI [DOI 10.1051/ANPHYS/195012050596, 10.1051/anphys/195012050596]

[2]

Abeles F, 1950, ANN PHYS-PARIS, V5, P706

[3] METHODS OF ALTERING CHARACTERISTICS OF A MULTILAYER STACK [J].

BAUMEISTER, PW .

[4] THIN-FILM OPTICAL COATINGS .1. OPTICAL COATING STABILITIES [J].

MOUCHART, J .

APPLIED OPTICS, 1977, 16 (09) :2486-2490

[5]

VANDERLAAN CJ, 1978, APPL OPTICS, V17, P538, DOI 10.1364/AO.17.000538