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STEP-STRESS ACCELERATED LIFE TESTING OF DIODES
被引：4
作者：
BORA, JS
机构：
[1] Reliability Evaluation Laboratory, Bhabha Atomic Research Centre, Bombay, 400 085, Trombay
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
|
1979年
/
19卷
/
03期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(79)90349-4
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
[No abstract available]
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页码：279 / 280
页数：2
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