THICKNESS MEASUREMENT OF TRANSPARENT THIN FILMS ON METAL SURFACES BY LIGHT INTERFERENCE

被引：6

作者：

MULLER, RH

机构：

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1964年 / 54卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.54.000419

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：419 / &

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共 18 条

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