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APPARATUS FOR RAPID SCANNING OF SEEBECK COEFFICIENT OF SEMICONDUCTORS
被引：10
作者：
COWLES, LEJ
DAUNCEY, LA
机构：
来源：
JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1962年
/
39卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1088/0950-7671/39/1/307
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
引用
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