A NEW FAILURE MODE OF RADIATION-INDUCED SOFT ERRORS IN DYNAMIC MEMORIES

被引：15

作者：

RAJEEVAKUMAR, TV

LU, NCC

HENKELS, WH

WEI, H

FRANCH, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/55.20423

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：644 / 646

页数：3

共 8 条

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