纳米计量学的基础技术组件

被引:2
作者
叶贤基
机构
[1] 工业技术研究院测量技术发展中心台湾新竹
关键词
激光宇航动力学; 纳米计量学; 次纳米级激光测长; 纳米定位; 挠性移动台; 扫描穿隧显微镜;
D O I
暂无
中图分类号
TH744 [物理光学仪器];
学科分类号
0803 ;
摘要
为了满足ASTROD激光宇航动力学任务慨念计划的高精度要求 ,以及实现新质量标准 ,我们开始进行次纳米激光测长与纳米定位控制的研究。本文将回顾我们在清华大学与工研院测量中心的研究成果 ,介绍如何利用外差式激光干涉仪、挠性微动台与压电陶瓷 ,进行次纳米激光测长与纳米定位控制。此研究成果将做为ASTROD计划中 ,无拖曳航天技术的研发基础。之后讨论如何将纳米定位控制系统与扫描穿隧显微镜进行整合 ,完成计量型扫描穿隧显微镜 ,进一步将微结构的测量尺寸直接追溯至长度标准。
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