6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化

被引：8

作者：

吴德会

杨世元

董华

机构：

[1] 合肥工业大学

来源：

系统工程理论方法应用 | 2006年 / 05期

关键词：

六西格玛; 连续合格链长; 控制图; 控制限;

D O I：

暂无

中图分类号：

O231 [控制论（控制论的数学理论）];

学科分类号：

070105 [运筹学与控制论];

摘要：

随着科学技术的发展,生产工序已达到六西格玛(6σ)质量水平,传统的3σ方法不再适应现代在线控制的要求。研究以连续合格链长为控制对象的连续合格链长(CCR)控制图解决该问题,提出一种优化控制限的新方法。该方法主要是通过分析CCR图控制限和两类错误所造成总损失之间的关系,并就此建立基于两类损失最小的控制界优化数学模型,最后给出主要研究过程、最优控制下限的数学表达式及其适用条件。

引用

页码：467 / 470+474 +474

页数：5