采用VOCl2的盐酸溶液等体积浸渍SiO2载体的表面反应方法制备了键联型V2O5SiO2(VSO)表面复合物。利用红外光谱法(IR)研究了其表面结构状态以及对C2H6的化学吸附性能;并利用程序升温还原技术(TPR)考察了该表面复合物载体对负载金属Pd、Cu氧化物还原过程的影响。结果表明,VSO具有类同于载体SiO2的孔结构和机械强度;VSO对C2H6有一定的化学吸附能力,C2H6分子C-H键中的H吸附在VSO表面V=O键的氧上,形成分子化学吸附态;PdO、CuO和PdOCuO与VSO之间可形成的Pd-O-V5+或Cu-O-V5+,此键中的氧促进了活性组分的还原,使PdO、CuO的还原温度降低。