Topology of technology graphs: Small world patterns in electronic circuits

被引：118

作者：

Ferrer i Cancho, R. ^{[1
]}

Janssen, C. ^{[1
]}

Solé, R.V. ^{[1
]}

机构：

[1] Complex Systems Research Group, FEC, UPC, Campus Nord, B4-B5, Barcelona 08034, Spain

来源：

Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics | 2001年 / 64卷 / 4 II期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevE.64.046119

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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