Sub-angstrom resolution of atomistic structures below 0.8 A

被引：27

作者：

O'Keefe, M.A.

Nelson, E.C.

Wang, Y.C.

Thust, A.

机构：

[1] National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory B72, Berkeley, CA 94720, United States

[2] Institut für Festkörperforschung, Forschungszentrum Jülich GmbH, D-52425 Jülich, Germany

[3] FEI Co., Hillsboro, OR 97124, United States

来源：

| 1861年 / Taylor and Francis Inc.卷 / 81期

关键词：

D O I：

10.1080/13642810110079692

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用