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Photoluminescence study on threading dislocation in GaN revealed by selective photoelectrochemical etching
被引:7
作者
:
机构
:
[1]
Hsieh, J.T.
[2]
Hwang, J.M.
[3]
Hwang, H.L.
[4]
Ho, J.K.
[5]
Huang, C.N.
[6]
Chen, C.Y.
[7]
Hung, W.H.
来源
:
Hsieh, J.T.
|
2000年
/ IEEE, Pennington, NJ, United States卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1149/1.1391158
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
引用
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