DYNAMIC TESTING AND DIAGNOSTICS OF A/D CONVERTERS.

被引：34

作者：

Vanden Bossche, M. ^{[1
]}

Schoukens, J. ^{[1
]}

Renneboog, J. ^{[1
]}

机构：

[1] Vrije Univ Brussels, Belg, Vrije Univ Brussels, Belg

来源：

IEEE transactions on circuits and systems | 1986年 / CAS-33卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1986.1086004

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

DATA CONVERSION, ANALOG TO DIGITAL

引用

页码：775 / 785