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Insight into the genesis of irregularity during crystal growth achieved through high sensitivity monochromatic synchrotron x-radiation diffraction imaging (topography)
被引：11
作者：
Steiner, B.
Kuriyama, M.
Dobbyn, R.C.
机构：
来源：
Progress in Crystal Growth and Characterization
|
1990年
/
20卷
/
03期
关键词：
D O I：
10.1016/0146-3535(90)90001-9
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
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