学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
PROXIMITY EFFECTS IN SUBMICRONIC LITHOGRAPHY.
被引:1
作者
:
Izrael, A.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
Izrael, A.
[
1
]
Bellessa, J.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
Bellessa, J.
[
1
]
Akamatsu, B.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
Akamatsu, B.
[
1
]
机构
:
[1]
CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr, CNET, Lab de Bagneux, Bagneux, Fr
来源
:
Microelectronic Engineering
|
1985年
/ 3卷
/ 1-4期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0167-9317(85)90047-4
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
9
引用
收藏
页码:371 / 378
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据