Study of Cerium Dioxide Thin Films by X-ray Photoelectron Spectroscopy

被引：10

作者：

Barreca, Davide ^{[1
]}

Battiston, Giovanni A. ^{[2
]}

Gerbasi, Rosalba ^{[2
]}

Tondello, Eugenio ^{[3
]}

机构：

[1] Dipartimento C.I.M.A., CSSRCC-CNR, Università di Padova, Via Loredan, 4, Padova,35131, Italy

[2] I.C.T.I.M.A., Corso Stati Uniti, 4, Padova,35127, Italy

[3] Dipartimento C.I.M.A., CSSRCC-CNR, Università di Padova, Via Loredan, 4, Padova,35131, Italy

来源：

Surface Science Spectra | 2000年 / 7卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1116/1.1375572

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：297 / 302