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CHARACTERIZATION OF THE LITHOGRAPHIC PROPERTIES OF INORGANIC RESISTS WITH NANOMETRE RESOLUTION ON BULK SUBSTRATES.
被引:14
作者
:
Macaulay, J.M.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Cavendish Lab, Cambridge, Engl, Cavendish Lab, Cambridge, Engl
Cavendish Lab, Cambridge, Engl, Cavendish Lab, Cambridge, Engl
Macaulay, J.M.
[
1
]
Berger, S.D.
论文数:
0
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机构:
Cavendish Lab, Cambridge, Engl, Cavendish Lab, Cambridge, Engl
Cavendish Lab, Cambridge, Engl, Cavendish Lab, Cambridge, Engl
Berger, S.D.
[
1
]
机构
:
[1]
Cavendish Lab, Cambridge, Engl, Cavendish Lab, Cambridge, Engl
来源
:
Microelectronic Engineering
|
1987年
/ 6卷
/ 1-4期
关键词
:
One of us (JMM) wishes to thank the SERC for financial support;
D O I
:
10.1016/0167-9317(87)90083-9
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
19
引用
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页码:527 / 532
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