Concurrent error detection and fault-tolerance linear analog circuits using continuous checksums

被引：52

作者：

Chatterjee, Abhijit ^{[1
]}

机构：

[1] Georgia Inst of Technology, Atlanta, United States

来源：

关键词：

VLSI circuits;

D O I：

10.1109/92.238422

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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