PICOSECOND OPTOELECTRONIC MEASUREMENT OF THE HIGH-FREQUENCY SCATTERING PARAMETERS OF A GaAs FET.

被引：25

作者：

Cooper, Donald E. ^{[1
]}

Moss, Steven C. ^{[1
]}

机构：

[1] Aerospace Corp, Los Angeles, CA, USA, Aerospace Corp, Los Angeles, CA, USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/JQE.1986.1072878

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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