Derivation of Creepage Distance in Terms of ESDD and Diameter of the Contaminated Insulator

被引：8

作者：

Salam, Md. Abdus ^{[1
]}

Ahmad, Hussein ^{[1
]}

机构：

[1] Dept. of Elec. Power Engineering, Faculty of Electrical Engineering, UniversitiTeknologi Malaysia, Johor Bahru, Malaysia

来源：

IEEE Power Engineering Review | 2000年 / 20卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1109/39.866870

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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