SIMS ANALYSIS OF IMPURITIES AT CMT/CdTe HETEROSTRUCTURE INTERFACES.

被引：42

作者：

Tunnicliffe, J. ^{[1
]}

Blackmore, G.W. ^{[1
]}

Irvine, S.J.C. ^{[1
]}

Mullin, J.B. ^{[1
]}

Holland, R. ^{[1
]}

机构：

[1] Royal Signals & Radar, Establishment, Worcestershire, Engl, Royal Signals & Radar Establishment, Worcestershire, Engl

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0167-577X(84)90118-6

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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