在TE01模谐振腔中样品厚度对测量固体材料复介电系数的影响

本文首先用两个TE01n模螺旋线谐振腔在9—12千兆赫对固体材料的相对介电系数ε′和损耗角正切tanδ作比对测量。其中一个是采用新的tanδ计算方法,在固定长度腔体上进行测量;另一个是采用常用的计算方法,腔体的一个端面是用精密测微器推动不接触活塞构成。用两种腔体所获得的ε′、tanδ结果,一致性很好,其标准误差相当于用一个腔体所获得的误差。进而用固定长度腔体研究了样品相厚度对测量固体材料ε′、tanδ的影响,得出一些对精密测量电介质复介电系数有实用价值的结论。