FPGA在偏振耦合测试仪中的应用

被引：2

作者：

袁实

李海峰

机构：

[1] 中国科学院研究生院

[2] 天津大学精密仪器与光电子工程学院北京　中国科学院沈阳自动化研究所辽宁　沈阳

[3] 天津

来源：

仪表技术与传感器 | 2004年 / 11期

关键词：

偏振耦合测试仪; 数据采集; 现场可编程门阵列(FPGA);

D O I：

暂无

中图分类号：

TP216 [自动检测仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ;

摘要：

在偏振耦合测试仪的PCI接口数据采集系统中,现场可编程门阵列(FieldProgramableGateArray)实现了对模/数器件的控制功能,同时完成了与PCI总线控制器间的数据接口功能。应用自顶向下的设计思想,完成了FPGA内部的逻辑设计,并对其逻辑功能进行了仿真验证,给出了FPGA数据采集时的测试时序图。应用FPGA实现的数据采集系统可以检测出偏振耦合检测仪中的微弱干涉光信号。

引用

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