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氧化对GaN基LED透明电极接触特性的影响
被引:8
作者
:
秦志新
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
秦志新
陈志忠
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
陈志忠
于彤军
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
于彤军
张昊翔
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
张昊翔
胡晓东
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
胡晓东
杨志坚
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
杨志坚
李忠辉
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
李忠辉
张国义
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机构:
北京大学物理学院介观物理实验室
张国义
机构
:
[1]
北京大学物理学院介观物理实验室
[2]
北京大学物理学院介观物理实验室 北京
[3]
北京
来源
:
液晶与显示
|
2004年
/ 01期
关键词
:
氮化镓基LED;
欧姆接触;
氧化;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN312.8 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
研究了热退火对InGaN/GaN多量子阱LED的Ni/Au p GaN欧姆接触的影响。发现在空气和N2气氛中交替地进行热退火的过程中Ni/Au接触特性显示出可逆现象。Ni/Au p GaN接触的串联电阻在空气中随合金化时间逐渐减小,在随后的N2中的热退火后会使该串联电阻增加,但在空气中再次热退火能使接触特性得到恢复。同时对Ni/Au p GaN接触在空气中合金化过程中的层反转的成因进行了讨论。
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