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LED光色电综合性能分析测试原理与仪器
被引:11
作者
:
潘建根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州远方仪器有限公司 浙江 杭州
潘建根
机构
:
[1]
杭州远方仪器有限公司 浙江 杭州
来源
:
液晶与显示
|
2003年
/ 02期
关键词
:
LED;
快速测量;
CIE标准条件;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN312.8 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义。本文介绍了LED光色电综合性能分析测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIE推荐标准条件。
引用
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页码:138 / 140
页数:3
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