Al－16％Si合金熔体的电阻率及其结构遗传

被引：29

作者：

李培杰，桂满昌，贾均，李庆春，里豪森

机构：

[1] 哈尔滨工业大学，俄罗斯哈巴洛夫斯克国立技术大学

来源：

关键词：

铝硅合金，熔体，原始组织，电阻率，结构遗传;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG146.21 [];

学科分类号：

摘要：

通过测试和分析Ａｌ－１６％Ｓｉ合金熔体的电阻率，研究了合金熔体微观结构的变化特点。试验结果表明，当将熔化过热到一定的温度时，基本上消除了不同原始组织对重熔后凝固组织的遗传影响。

引用

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