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MCM器件的热设计方法
被引:1
作者
:
胡志勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华东计算技术研究所
胡志勇
机构
:
[1]
华东计算技术研究所
来源
:
世界电子元器件
|
2003年
/ 12期
关键词
:
器件;
热量;
热设计;
MCM;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN402 [设计];
学科分类号
:
080903 ;
1401 ;
摘要
:
<正> 在当今的电子产品中,多芯片模块(Multichip Modules简称MCM)的应用正愈来愈广泛。它在缩小电子产品体积,提高产品性能方面起到了重要作用。但对组装设计师而言,却提出了严酷的热设计问题。因为在与常规的单芯片相同的面积上,MCM内封装了许多集成电路。MCM器件中的热应力来自于两方面,即来自MCM模块内部和MCM模块所处的外部环境所形成的热应力,这些热应力会影响到器件的电性能、工作频率、机械强度和
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页码:68 / 70
页数:3
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