不同粗糙度尺度下预测表层土壤孔隙率量化指数比较研究

被引：8

作者：

张慧娟 ^{[1
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孙宇瑞 ^{[1
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林剑辉 ^{[1
]}

P Schulze Lammers ^{[2
]}

王聪颖 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国农业大学精细农业研究中心

[2] 德国波恩大学农业工程研究所

来源：

应用基础与工程科学学报 | 2009年 / 01期

关键词：

表层土壤孔隙率; 土壤粗糙度; 地面激光扫描仪;

D O I：

10.16058/j.issn.1005-0930.2009.01.016

中图分类号：

S152 [土壤物理学];

学科分类号：

0903 ; 090301 ;

摘要：

针对当前精细农业对农田信息快速采集的需求,本研究提出了基于土壤粗糙度预测表层土壤孔隙率的方法,而采用何种量化指数表征土壤粗糙度是深化研究的关键.本文首先系统总结了几种已有的衡量土壤粗糙度的量化指数,进而提出一种新的基于小尺度的土壤粗糙度指数Rd.根据对4种不同耕作方式下应用地面激光扫描仪获取的原始试验数据进行初步处理,并将4种粗糙度量化指数与表层土壤孔隙率的相关性做了比较研究,得出了两个重要结论:(1)与其它粗糙度量化指数相比,Rd与表层土壤孔隙率的相关性最高(R2=0.752);(2)基于激光扫描方法快速分析表层土壤孔隙率具有潜在的应用价值.

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