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陶瓷-金属封接质量和可靠性研究
被引:17
作者
:
高陇桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京真空电子技术研究所北京
高陇桥
机构
:
[1]
北京真空电子技术研究所北京
来源
:
真空电子技术
|
2003年
/ 04期
关键词
:
陶瓷金属封接;
质量和可靠性;
焊料;
银泡;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN105 [电真空器件制造工艺];
学科分类号
:
080508
[光电信息材料与器件]
;
摘要
:
综述了我国陶瓷 金属封接质量以及可靠性的现状和重要性。通过研究陶瓷金属封接件的显微结构和断裂模式 ,分析了几种产品缺陷及其影响因素 ,并提出了一些改进陶瓷 金属封接质量与可靠性的建议。
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页数:5
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陶瓷-金属封接抗拉强度测试方法.[S].信息产业部电子第十二研究所;中国电子技术标准化研究所(CESI);江苏陶瓷研究所.中华人民共和国信息产业部.2002,
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