粉末样品中某些杂质元素的同位素稀释二次离子质谱定量分析方法的研究

被引：2

作者：

游俊富

孙希皎

曹永明

机构：

[1] 上海市测试技术研究所

[2] 复旦大学材料研究所

来源：

关键词：

同位素稀释; 粉末样品; 杂质元素; 二次离子质谱; 定量分析方法;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

在CAMECA IMS—300型和IMS—3F型离子探针上,探索了将稀释剂直接加入粉末样品中,对Y2O3中的Fe、Ni、Cu和Al2O3中的B进行定量分析的方法,报道了实验结果和存在问题。

引用

页码：40 / 43

页数：4