离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷

被引：14

作者：

陆晓明

金德龙

林国强

孙福民

不详

机构：

[1] 上海宝钢股份有限公司技术中心

[2] 上海申佳铁合金厂

[3] 上海申佳铁合金厂上海

[4] 上海

来源：

冶金分析 | 2005年 / 01期

关键词：

X射线荧光光谱; 离心浇铸; 铬铁;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2005.01.013

中图分类号：

TG115 [金属的分析试验（金属材料试验）];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确。当Cr,Si,P的质量分数分别为66 04%,0 64%,0 016%,其相对标准偏差分别为0 18%,3 12%,6 25%。该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求。

引用

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