高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪应用现状和进展

被引：14

作者：

吉昂 ^{[1
]}

李国会 ^{[2
]}

张华 ^{[3
]}

机构：

[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所

[2] 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所

[3] PANalytical公司APR应用实验室

来源：

岩矿测试 | 2008年 / 06期

关键词：

高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪; 应用现状; 进展;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.2008.06.011

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];

学科分类号：

摘要：

对高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪基本特点及其用于环境、生物、地质样品中痕量元素的分析和RoSH检测等领域的应用现状予以介绍,并对二次靶与滤光片在痕量元素分析中的应用作了探讨。

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页码：451 / 462

页数：12

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