投影栅三维形面测量中亚像素匹配算法

被引：9

作者：

张吴明 ^{[1
]}

钟约先 ^{[2
]}

李仁举 ^{[3
]}

机构：

[1] 北京师范大学地理学与遥感科学学院遥感科学国家重点实验室

[2] 清华大学机械工程系先进成型制造教育部重点实验室

[3] 北京大学视觉与听觉信息处理国家重点实验室

来源：

清华大学学报(自然科学版) | 2008年 / 03期

关键词：

投影栅; 三维形面测量; 亚像素; 相位线性插值;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG806 [技术测量方法];

学科分类号：

0805 ;

摘要：

根据相位值寻找匹配点是投影栅三维形面测量系统的关键技术之一,匹配精度在一定程度上决定了系统最终的三维重建精度,而整像素匹配无法满足高精度三维形面测量的需要。根据相邻像素相位近似线性分布的特点,提出了一种基于相位线性插值的亚像素匹配算法。模拟实验表明:应用该匹配算法后,三维重建测量精度有很大提高,匹配速度很快。验证实验显示:应用该匹配算法后投影栅三维形面系统的测量精度可达0.03mm,能够满足一些高精度测量需求。

引用

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