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红外焦平面非均匀性校正两点法的优化实现
被引:5
作者
:
张天序
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制国家教育部重点实验室
张天序
樊荣
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机构:
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制国家教育部重点实验室
樊荣
石岩
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机构:
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制国家教育部重点实验室
石岩
机构
:
[1]
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制国家教育部重点实验室
[2]
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制国家教育部重点实验室 湖北武汉
[3]
湖北武汉
来源
:
系统工程与电子技术
|
2005年
/ 07期
关键词
:
图像处理;
红外焦平面阵列;
非均匀校正;
数字信号处理器;
优化;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN216 [红外系统装置];
学科分类号
:
0803 ;
080401 ;
080901 ;
摘要
:
在分析红外焦平面(IRFPA)非均匀性校正两点法基本原理的基础上,推导出了两点校正的定点公式,并分析了该定点公式的误差。利用TI的定点数字信号处理器TMS320C64x的特点,对定点校正公式进行了汇编优化,极大地提高了校正的运算速度。实际的IRFPA红外图像的实验表明,所提出的定点校正方法及基于TMS320C64xDSP的优化方法是简单、有效的。
引用
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页码:1169 / 1172+1177 +1177
页数:5
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