ICP-AES同时测定高纯锡中十种微量杂质元素的研究

被引：5

作者：

王光灿

朱光辉

普世坤

和卫东

李耀光

机构：

[1] 云南大学!云南昆明

[2] 岛津公司昆明办事处!云南昆明

[3] 昆明冶炼厂!云南昆明

来源：

关键词：

高纯锡; 微量杂质元素; 基体匹配法; ICP-AES;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 [分析化学];

摘要：

研究了用基体匹配法和ICP- AES同时直接测定高纯锡中十种微量杂质元素, 研究结果表明该方法回收率93-6 % ～104-6% , 分析精密度RSD% ≤4-4 % ; 该方法简便、迅速、准确是测定高纯锡中多种微量杂质元素的一种较好的分析方法。

引用

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