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科技文献经典老化模型的新修正
被引:17
作者
:
靖培栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京师范大学信息技术与管理学系
靖培栋
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘忠厚
机构
:
[1]
北京师范大学信息技术与管理学系
来源
:
情报学报
|
1999年
/ 01期
关键词
:
科技文献,老化,模型,x2检验;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
G256 [文献学];
学科分类号
:
050104 ;
060107 ;
060202 ;
摘要
:
科技文献老化的经典模型,负指数模型和Burton Kebler公式存在着密切联系,在分析其密切联系的基础上,提出了它们的一个新修正式,并利用统计检验的方法验证了新模型的合理性和比原模型更高的拟合度。
引用
收藏
页码:85 / 90
页数:6
相关论文
共 3 条
[1]
科技文献半衰期的计算
[J].
王崇德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
桂林市科技情报研究所
王崇德
.
图书情报工作,
1983,
(05)
:7
-10
[2]
文献计量学基础.[M].丁学东编著;.北京大学出版社.1993,
[3]
文献计量学.[M].邱均平 编著.科学技术文献出版社.1988,
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共 3 条
[1]
科技文献半衰期的计算
[J].
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1983,
(05)
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