电力半导体器件和装置的功率损耗研究

被引:21
作者
许德伟
朱东起
黄立培
姜新建
卢海惟
机构
[1] 清华大学电机工程与应用电子技术系!北京
关键词
损耗分析; 结温; 热阻网络; 电力电子;
D O I
10.16511/j.cnki.qhdxxb.2000.03.002
中图分类号
TN303 [结构、器件];
学科分类号
0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;
摘要
为了提高电力电子装置和电力半导体器件的运行可靠性 ,提出了估算电力半导体器件损耗和结温的热 -电联合计算方法。基于电力半导体器件的瞬态开关特性的测量 ,构造了器件精确的损耗数学模型 ,同时考虑了器件的结温对器件损耗的影响。在单个器件损耗模型的基础上分析了电力电子变换装置的损耗 ,分析了装置中器件及其散热系统组成的热阻网络及各器件的结温。最后设计了两类实验装置分别验证损耗计算的精度 ,与实验结果的对比表明该方法为合理地设计器件的散热系统、提高电力电子变换装置的效率提供了有效手段。
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