双光源光切法三维轮廓测量的误差分析

被引：10

作者：

陈伟民，王晓林，黄尚廉

机构：

[1] 国家教委光电技术及系统开放实验室，重庆大学

来源：

关键词：

光切法，三维轮廓测量，结构光;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.1996.02.008

中图分类号：

TH703 [结构];

学科分类号：

摘要：

本文介绍了光切三维轮廓测量系统的原理和结构，并对其测量精度进行了详细的分析，得出了量化环节和旋转环节为测量的主要误差源的结论。最后，给出了本系统与三坐标测量机的测量结果比较和进一步提高精度的措施

引用

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