氢化物发生-原子荧光光谱法测定地球化学样品中痕量铋

被引：10

作者：

于兆水

李淑娟

张勤

机构：

[1] 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所

[2] 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所河北廊坊

[3] 河北廊坊

来源：

岩矿测试 | 2005年 / 03期

关键词：

铋; 地质样品; 氢化物发生; 原子荧光光谱法;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.2005.03.012

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法]; O614 [金属元素及其化合物];

学科分类号：

070302 ; 081704 ; 070301 ;

摘要：

样品经王水溶解后,加入KMnO4溶液氧化,草酸除去过量KMnO4后的体系,直接用氢化物发生原子荧光光谱法测定地质样品中痕量Bi。方法使Au、Pd、As、Sb、Se、Te等元素的允许量大为提高,减少了不同测定体系中共存元素对Bi测定的干扰。方法的检出限（6s）为0.042μg/g,精密度（RSD,n=12）为1.88%5.57%。经国家一级地质标准物质验证,测定值与标准值吻合。

引用

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