目的 探讨脑损伤后应激状态下室旁核 (paraventricularnucleus,PVN)神经元中c -fos基因的表达机制及其意义。 方法 成年雄性昆明小白鼠 2 8只 ,随机分为 7组 ,1组为正常对照组 ,其余 6组为致伤组。以小鼠局灶性脑损伤模型为研究对象 ,采用原位杂交法对脑损伤后不同时间PVN神经元中c -fos基因表达状况进行检测。 结果 脑损伤后 5min ,小鼠双侧PVN中有散在分布的c -fos阳性细胞 ;损伤后 15min ,c-fos阳性细胞呈低密度 ,较同期皮层神经元中密度要高 ,30min时达到最高密度 ,而后回到基线水平 ;损伤后 2 4h仍有低密度表达。 结论 脑损伤后机体处于应激状态 ,可以通过不同于皮层神经元的其他途径诱发PVN中c -fos基因表达