相位去包裹技术进展

被引：12

作者：

王新

贾书海

陈光德

机构：

[1] 西安交通大学理学院光信息科学与技术系,西安交通大学理学院光信息科学与技术系,西安交通大学理学院光信息科学与技术系西安,西安,西安

来源：

关键词：

光学测量; 相位去包裹;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2005.s2.230

中图分类号：

TP274.4 [];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

散斑干涉、全息等光学测量技术的广泛应用,推动了相位去包裹研究的快速发展,迄今为止已提出了多种相位去包裹算法。文中对去包裹算法的研究进行了综述,简要叙述了各种算法的基本思想和方法步骤,并对它们进行了分析比较。

引用

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