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处于早期故障期可修复元件的可靠性分析
被引：2
作者：
白同朔
机构：
[1] 上海交通大学
来源：
关键词：
故障期;
非时齐;
泊松过程;
分布密度函数;
极大似然估计;
数值分析;
可修复设备;
运行时间;
使用寿命期;
可靠性指标;
平均故障率;
方程式;
方程;
韦布尔分布;
可靠性分析;
D O I：
10.13334/j.0258-8013.pcsee.1984.03.007
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文建议用一种非时齐的泊松过程—威布尔过程来描述处于早期故障的可修复元件。由此,本文推广了处于使用寿命期的可修复元件的可靠性指标MTBF及强迫停运率FOR,提出了条件平均故障间运行时间MTBFt及区间平均强迫停运率FORa等可靠性指标。本文还提出了第J次故障前平均运行时间MTTJF这个可靠性指标,作为对首次故障前平均运行时间MTTFF的推广。
引用
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