激光荧光法测定地质样品中痕量铀

被引：12

作者：

杜安道

杨桂芳

周肇茹

李蓉华

机构：

[1] 地矿部岩矿测试技术研究所

来源：

关键词：

痕量铀; 地质样品; 激光荧光法; 岩石样品; 岩样; 荧光强度;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.1989.03.015

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

作者研制了XPY和XBY两种荧光增强试剂,用于激光荧光法测定地质样品中痕量铀。荧光增强剂不仅对铀有荧光增强作用,而且使测定体系具有较强的抗干扰能力。经验证对岩石样品中的铀的检出下限为0.01ppm。能满足岩石矿物中痕量铀的测定要求。

引用

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