业内专家评述“汉芯涉假”事件(一)

被引:1
作者
张国斌
机构
关键词
院士; IC; 集成电路行业; 中国芯; 专家;
D O I
暂无
中图分类号
F426.63 [];
学科分类号
摘要
虽然2006新年伊始在我国IC设计领域爆发了“汉芯涉假”事件,但它并没有妨碍本土IC设计公司的成长壮大趋势,最近中国半导体行业协会公布的2005年中国top10IC设计企业也显示许多本土IC企业成长非常快。所以,本土IC设计企业的前景是非常光明的,在刚刚召开的第十一届中国国际集成电路暨展览会(IIC)上,本土IC设计公司参展数量相比去年增长了一倍,许多本土企业已经拿出了自己的产品和外国巨头同台竞技。当然,“汉芯”事件也需要我们理性思考,针对目前网络上愈演愈烈的“汉芯”评论,几位业内从业人员发表了自己的看法,也许,他们业内人的角度可以有助于我们更好地理解和反思这个事件。
引用
收藏
页码:79 / 80
页数:2
相关论文
empty
未找到相关数据