材料光谱发射率精密测量装置

被引：27

作者：

原遵东 ^{[1
]}

张俊祺 ^{[2
]}

赵军 ^{[2
]}

梁宇 ^{[1
]}

段宇宁 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国计量科学研究院

[2] 天津大学

来源：

仪器仪表学报 | 2008年 / 08期

关键词：

光谱发射率; 测量; 线性度; 双黑体法; 不确定度;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2008.08.018

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

140102 [集成电路设计与设计自动化];

摘要：

采用光栅单色仪方案研究了光谱发射率的测量装置,以加热方式将材料样品温度控制在473～1000K,可在2～15μm测量样品的定向光谱发射率。应用锁相放大技术和统计测量方法提高样品与黑体的辐射亮度比较测量的信噪比。对测量装置性能进行了评价实验,并提出一种双黑体法评价光谱辐射测量系统的线性度。测量了氧化不锈钢样品和高发射率涂料的光谱发射率并进行了不确定度评定,合成标准不确定度小于0.04。

引用

页码：1659 / 1664

页数：6

共 5 条

[1]

固体热物理性质导论.[M].[美]杜洛金著;奚同庚;王梅华编译.中国计量出版社.1987,

[2]

固体材料表面光谱发射率测量 [J].