高精度测量光学成像系统畸变的一种新方法——数字图像相关法

被引:3
作者
王莲莲
王健
机构
[1] 苏州大学理学院物理系!江苏苏州
关键词
相关技术; 像素; 畸变;
D O I
暂无
中图分类号
TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;
摘要
用光学成像系统对物体的线度或面积进行非接触式高精度测量时 ,必须考虑成像系统的畸变 ,并对畸变进行高精度的全场测量 .本文提出用数字图像相关技术高精度测量光学成像系统的畸变 .
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