基于AVR单片机的光敏电阻测试装置的设计

介绍了一种基于AVR单片机的光敏电阻测试装置的设计方法。系统使用AVR单片机Atmega16对8路光敏电阻的亮电阻、暗电阻等参数进行数据采集,通过USB接口把数据传送到上位机。用VB编写的上位机应用程序完成数据通信、分析处理等,人机界面友好。实测表明:系统具有较高的测量精度和较强的适应性。